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Blancos de Análisis de Imagen

Image Analysis Test Targets are used to evaluate or calibrate an image system's performance by measuring image quality standards such as resolution, contrast, or depth of field. Image Analysis Test Targets detail a range of shapes or patterns that measure the accuracy of an imaging system by viewing them with an imaging lens. Image Analysis Test Targets effectively determine the capabilities of an imaging system, allowing for accurate certification of performance as well as for establishing baseline standards for multiple systems working together.

Blanco de Profundidad de Campo DOF 5-15
Blanco de Profundidad de Campo DOF 5-15
  • Compruebe la Profundidad de Campo de Sistemas de Imagen
  • Elimina la Necesidad de Calculaciones
Dot and Square Calibration Target
Dot and Square Calibration Target
  • Designed for Measurement Calibration
  • Positive or Negative Chrome Patterns on Glass
  • High Contrast Target for Imaging with Elements from 0.5 to 10mm
  • NIST Traceability Certificate Included
Micrómetro-Objeto con Escalas Linear en Dos Ejes
Micrómetro-Objeto con Escalas Linear en Dos Ejes
  • Diseño de Dos Ejes
  • Escala Inglesa o Métrica
  • Certificado de Certeza N.I.S.T. Incluido
Micrómetro-Objeto EO para Vision de Maquina
Micrómetro-Objeto EO para Vision de Maquina
  • Certificado de Certeza NIST Incluido
  • Ideal para Calibración Rápida de Sistemas de Visión
  • Caja Durable Incluido
Blanco de Telecentricidad EO
Blanco de Telecentricidad EO
  • Herramienta Critica para Cualquier Sistema de Visión que Mide Tamaño o Distancia
  • Calibra Cualquier Tipo de Lente
  • Cubre un Gran Intervalo de Magnificaciones
Micrómetro de Análisis Imagen
Micrómetro de Análisis Imagen
  • Diseñado para Calibración de Medida
Carta de Imagen Kodak
Carta de Imagen Kodak
  • Mas de 18 Modelos de Test
  • Carta de 8½" x 11"
Micrómetro-Objeto Estándar de Micro Líneas y Puntos
Micrómetro-Objeto Estándar de Micro Líneas y Puntos
  • Calibrar Temblor de Pixel
  • Líneas y Puntos de 2μm a 100μm
Blanco Multi-Función de Baja Magnificación
Blanco Multi-Función de Baja Magnificación
  • Calibra Sistemas de 0.08X hasta 4X
  • Mide MTF, DOF, Resolución, FOV, y Distorsión
  • Puede Calibrar Sistemas Transmisivos o Reflexivos
  • Certificado de Certeza NIST Incluido
Blancos Multi-Función para la Calibración de Sistemas de Alta Magnificación
Blancos Multi-Función para la Calibración de Sistemas de Alta Magnificación
  • Diseñados para la Calibración de Magnificación
  • Ideal para Microscopios y Sistemas de Visión de Maquina
  • Dos Blancos son Disponibles para Magnificaciones Diferentes
  • Certificado de Certeza NIST Incluido
Micrómetro-Objeto Estándar de Múltiples Rejillas
Micrómetro-Objeto Estándar de Múltiples Rejillas
  • Calibración de Distorsión en Sistemas de Alta Magnificación

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