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Micrómetro-Objeto Estándar de Múltiples Rejillas | Edmund Optics
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Micrómetro-Objeto Estándar de Múltiples Rejillas

  • Calibración de Distorsión en Sistemas de Alta Magnificación

La plataforma de micrómetro de múltiples rejillas lleva rejillas de frecuencias variables, y es ideal para la calibración de distorsión en sistemas de microscopio. Tamaños de rejilla son de 0.5mm (divisiones de 25μm), 1.0mm (divisiones de 50μm), 2.0mm (divisiones de 100μm), y 4.0mm (divisiones de 200μm). El micrómetro también lleva una rejilla de ángulo (segmentos de 15°). El blanco esta hecho de cromio sobre cristal, 1” x 3” x 1.5mm.

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