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Blancos de Resolución

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High Resolution Microscopy Slide Targets Nuevo
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High Resolution Microscopy Slide Targets
  • Small Pattern Sizes - 100nm and 3300 lp/mm
  • Composed using High-Precision E-Beam Lithography
  • Negative Pattern Design
Blanco de Resolución de Contraste USAF 1951 Blanco de Resolución de Contraste USAF 1951
  • 15 Blancos USAF que Varían en Densidad
  • Permite Medida de Resolución a Niveles Distintos de Contraste
Blancos USAF 1951 de Resolución en Dispositivos de Cristal Blancos USAF 1951 de Resolución en Dispositivos de Cristal
  • Formaciones Positivas o Negativas en Cristal
  • Dos Tamaños Disponibles
  • Cada Blanco Viene con Caja Protectora e Incluye una Tabla de Valores de Resolución
  • Blancos de Alta Resolución son Disponibles (hasta 645lp/mm)
Blanco de Resolución de Campo USAF 1951 en Papel Fotográfico Blanco de Resolución de Campo USAF 1951 en Papel Fotográfico
  • Configurado con un Índice de Aspecto de 4:3 para Medir Resolución como una Función de Campo
  • Cada Sección Contiene Cuatro Blancos USAF para Niveles de Densidad Variables
Blancos USAF de Trayectoria Óptica Libre Blancos USAF de Trayectoria Óptica Libre
  • Determine la Resolución Sistemas de Imagen de Rayo-X, UV, Termal, y IR-Lejano
  • Fácil Montura
  • Ideal para Aplicaciones de Transmisión
Rejilla Ronchi de Alta Precisión Rejilla Ronchi de Alta Precisión
  • Cromo Sobre Cristal
  • Alta Tolerancia
Carta de Resolución 13A 12233 Carta de Resolución 13A 12233
  • Cumple con el Estándar ISO 12233
  • Ofrece Calibración de Resolución de Campo Entero
  • Aplicable para Cameras Monocromáticas y de Color que Proporcionan Cameras una Señal de Video Digital o Analógico
  • Tres Tamaños Disponibles
Blanco de Resolución IEEE Blanco de Resolución IEEE
  • Nuevo Estándar de Resolución
  • Calibración de Resolución para el Campo Entero
  • Diseñado para el Test de Sistemas Analógicos de Imagen
Blanco de Resolución NBS 1963A Blanco de Resolución NBS 1963A
  • Blanco Negativo o Positivo
  • Cumple con el Estándar NBS 1010A
  • Gama de Frecuencia de 1-512 Ciclos/min
Dispositivos de Rejilla Ronchi Sobre Cristal Opal Dispositivos de Rejilla Ronchi Sobre Cristal Opal
  • Cromio Sobre Cristal Opal
  • Examine la Resolución de Sistemas Reflejantes
  • Alta Tolerancia
Pocket USAF Optical Test Pattern Pocket USAF Optical Test Pattern
  • Pocket Sized USAF Test Pattern
Dispositivos de Regilla Ronchi de Precisión Dispositivos de Regilla Ronchi de Precisión
  • Usado para la Evaluación de Resolución, Distorsión de Campo, y Estabilidad Para-focal
  • Ideal para los Requisitos de Calibración de Campo y Retícula
  • Disponible en Vidrio Flotado, Silicona Fundida, Silicona Fundida con un Tratamiento Fluorescente y Ópalo
Rejillas Ronchi Sobre Cristal Opal Rejillas Ronchi Sobre Cristal Opal
  • Cromio Sobre Cristal Opal
  • Alta Tolerancia
  • Versiones Inglesas y Métricas
Carta USAF de Potencia de Resolución Carta USAF de Potencia de Resolución
  • Test for Astigmatism
  • USAF Test Pattern in Black, Red, Yellow, and Blue
  • 6 Elements in 6 Groups
Blancos Sinusoidales Blancos Sinusoidales
  • Diseñados para Comprobar Valores de MTF
  • Determinan la Calidad de Imagen de Componentes de Imagen
Blancos de Estrella Blancos de Estrella
  • Ideal para la Detección de Errores de Enfoque y Astigmatismos
  • Espacio de Cuña de 0.6 a 14 lp/mm
  • Disponible Sobre Papel Fotográfico Blanco o de Cromio Sobre Cristal
Configuraciones de Blancos de Estrella Configuraciones de Blancos de Estrella
  • Detección de Aberraciones en Varios Puntos de Campo
Blancos USAF 1951 y de Rejilla de Puntos Blancos USAF 1951 y de Rejilla de Puntos
  • USAF 1951 Elements 0 to 3 (14 lp/mm)
  • Fixed Frequency Grid on 2mm Centers
  • 2” x 2.75”
Blanco USAF de Rueda Blanco USAF de Rueda
  • Examina Resolución de 4-228 lp/mm
  • Reduce Tiempo de Examinacion
  • Examina Múltiples Puntos de Campo
Blancos USAF 1951 de Resolución Fluorescente y Silicio Fundido UV Blancos USAF 1951 de Resolución Fluorescente y Silicio Fundido UV
  • Diseñados para la Calibración de Microscopios de UV o Florescencia
  • Blancos Fluorescentes Tienen una Longitud de Onda de Excitación de 365nm, y una Longitud de Onda de Emisión de 550nm
  • Blancos Positivos y Negativos Disponibles
Blancos de Frecuencia Variable Blancos de Frecuencia Variable
  • 5 lp/mm a 120lp/mm o 5 lp/mm a 200 lp/mm
  • Tamaño de Paso Ancho de 1mm
  • Incremento de 5 lp/mm
  • Usado para Calibrar Sistemas de Video
  • Inspeccione Resoluciones Desconocidas

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Resolution Test Targets are used to measure the accuracy or performance of an imaging system for applications such as microscopy or imaging. Resolution Test Targets are inserted into an imaging system to provide measurement capabilities. Resolution Test Targets use a variety of patterns including Ronchi or star to measure a system’s resolution. High precision models are also available for demanding or precise measurement requirements.

Edmund Optics offers a wide range of Resolution Test Targets suited for many imaging measurement needs. Resolution Test Targets provide the user the ability to easily measure the accuracy of an imaging system, extending a system’s lifecycle by maintaining its effectiveness after continued use or time. Star targets feature a circle of converging lines that measure resolution by determining how far an imaging system can distinguish individual lines. Ronchi targets similarly use a series of fine lines to measure an imaging system’s performance. Many Resolution Test Targets are available in both glass slide as well as photographic paper versions.


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