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Blancos de Resolución

Resolution Test Targets are used to measure the accuracy or performance of an imaging system for applications such as microscopy or imaging. Resolution Test Targets are inserted into an imaging system to provide measurement capabilities. Resolution Test Targets use a variety of patterns including Ronchi or star to measure a system’s resolution. High precision models are also available for demanding or precise measurement requirements.

Edmund Optics offers a wide range of Resolution Test Targets suited for many imaging measurement needs. Resolution Test Targets provide the user the ability to easily measure the accuracy of an imaging system, extending a system’s lifecycle by maintaining its effectiveness after continued use or time. Star targets feature a circle of converging lines that measure resolution by determining how far an imaging system can distinguish individual lines. Ronchi targets similarly use a series of fine lines to measure an imaging system’s performance. Many Resolution Test Targets are available in both glass slide as well as photographic paper versions.

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High Resolution Microscopy Slide Targets
  • Small Pattern Sizes - 100nm and 3300 lp/mm
  • Composed using High-Precision E-Beam Lithography
  • Negative Pattern Design

Blanco de Resolución de Contraste USAF 1951
  • 15 Blancos USAF que Varían en Densidad
  • Permite Medida de Resolución a Niveles Distintos de Contraste

Blancos USAF 1951 de Resolución en Dispositivos de Cristal
  • Formaciones Positivas o Negativas en Cristal
  • Dos Tamaños Disponibles
  • Cada Blanco Viene con Caja Protectora e Incluye una Tabla de Valores de Resolución
  • Blancos de Alta Resolución son Disponibles (hasta 645lp/mm)

Blanco de Resolución de Campo USAF 1951 en Papel Fotográfico
  • Configurado con un Índice de Aspecto de 4:3 para Medir Resolución como una Función de Campo
  • Cada Sección Contiene Cuatro Blancos USAF para Niveles de Densidad Variables

Blancos USAF de Trayectoria Óptica Libre
  • Determine la Resolución Sistemas de Imagen de Rayo-X, UV, Termal, y IR-Lejano
  • Fácil Montura
  • Ideal para Aplicaciones de Transmisión

Rejilla Ronchi de Alta Precisión
  • Cromo Sobre Cristal
  • Alta Tolerancia

Carta de Resolución 13A 12233
  • Cumple con el Estándar ISO 12233
  • Ofrece Calibración de Resolución de Campo Entero
  • Aplicable para Cameras Monocromáticas y de Color que Proporcionan Cameras una Señal de Video Digital o Analógico
  • Tres Tamaños Disponibles

Blanco de Resolución IEEE
  • Nuevo Estándar de Resolución
  • Calibración de Resolución para el Campo Entero
  • Diseñado para el Test de Sistemas Analógicos de Imagen

Blanco de Resolución NBS 1963A
  • Blanco Negativo o Positivo
  • Cumple con el Estándar NBS 1010A
  • Gama de Frecuencia de 1-512 Ciclos/min

Dispositivos de Rejilla Ronchi Sobre Cristal Opal
  • Cromio Sobre Cristal Opal
  • Examine la Resolución de Sistemas Reflejantes
  • Alta Tolerancia

Dispositivos de Regilla Ronchi de Precisión
  • Usado para la Evaluación de Resolución, Distorsión de Campo, y Estabilidad Para-focal
  • Ideal para los Requisitos de Calibración de Campo y Retícula
  • Disponible en Vidrio Flotado, Silicona Fundida, Silicona Fundida con un Tratamiento Fluorescente y Ópalo

Rejillas Ronchi Sobre Cristal Opal
  • Cromio Sobre Cristal Opal
  • Alta Tolerancia
  • Versiones Inglesas y Métricas

Blancos Sinusoidales
  • Diseñados para Comprobar Valores de MTF
  • Determinan la Calidad de Imagen de Componentes de Imagen

Blancos de Estrella
  • Ideal para la Detección de Errores de Enfoque y Astigmatismos
  • Espacio de Cuña de 0.6 a 14 lp/mm
  • Disponible Sobre Papel Fotográfico Blanco o de Cromio Sobre Cristal

Configuraciones de Blancos de Estrella
  • Detección de Aberraciones en Varios Puntos de Campo

Blancos USAF 1951 y de Rejilla de Puntos
  • USAF 1951 Elements 0 to 3 (14 lp/mm)
  • Fixed Frequency Grid on 2mm Centers
  • 2” x 2.75”

Blanco USAF de Rueda
  • Examina Resolución de 4-228 lp/mm
  • Reduce Tiempo de Examinacion
  • Examina Múltiples Puntos de Campo

Blancos USAF 1951 de Resolución Fluorescente y Silicio Fundido UV
  • Diseñados para la Calibración de Microscopios de UV o Florescencia
  • Blancos Fluorescentes Tienen una Longitud de Onda de Excitación de 365nm, y una Longitud de Onda de Emisión de 550nm
  • Blancos Positivos y Negativos Disponibles

Blancos de Frecuencia Variable
  • 5 lp/mm a 120lp/mm o 5 lp/mm a 200 lp/mm
  • Tamaño de Paso Ancho de 1mm
  • Incremento de 5 lp/mm
  • Usado para Calibrar Sistemas de Video
  • Inspeccione Resoluciones Desconocidas

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