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Multi-Grid Standard Stage Micrometer w/ NIST Cert

Stock #59-275
€645,00
Cant. 1-2
€645,00
Cant. 3
€580,50
Precio por Volumen
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Scale Divisions:
0.5mm (25μm divisions), 1.0mm (50μm divisions), 2.0mm (100μm divisions), 4.0mm (200μm divisions), angle grid (15° segments)
Dimensions (mm):
25.4 x 76.2
Surface Quality:
60-40
Thickness (mm):
1.50 ±0.100
Dimensional Tolerance (mm):
±0.100
Substrate:
Chrome on Glass
NIST Certification:
Yes

Regulatory Compliance

Product Family Description

  • Calibración de Distorsión en Sistemas de Alta Magnificación

La plataforma de micrómetro de múltiples rejillas lleva rejillas de frecuencias variables, y es ideal para la calibración de distorsión en sistemas de microscopio. Tamaños de rejilla son de 0.5mm (divisiones de 25μm), 1.0mm (divisiones de 50μm), 2.0mm (divisiones de 100μm), y 4.0mm (divisiones de 200μm). El micrómetro también lleva una rejilla de ángulo (segmentos de 15°). El blanco esta hecho de cromio sobre cristal, 1” x 3” x 1.5mm.

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